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DAL 2D AL 3D L’EVOLUZIONE DELLE MISURE SUPERFICIALI “ MISURA E CONTROLLO DI PROFILI-VOLUMI, IN SCALA MACRO, MICRO E NANO
sabato 12 giugno 2010
  • DAL 2D AL 3D L’EVOLUZIONE DELLE MISURE SUPERFICIALI “ MISURA E CONTROLLO DI PROFILI-VOLUMI, IN SCALA MACRO, MICRO E NANO
Il 20 Giugno 2012 presoo "Università di trento DIP. Ingegneria dei Materiali e Tecnologie industriali"
Presentazione delle nuove tecnologie per il controllo e la misura delle superfici “Ispezioni macro con risoluzioni nano”.

Per chi fosse interessato, previo appuntamento, si possono effettuare delle prove direttamente sui propri campioni

Strumenti presenti
Leica DVM microscopio digitale
Leica Stereomicroscopio M205 Digitale
Leica DM8000 microscopio Met motorizzato e automatico

Relatori
Ing. Parma Leica Mycrosystems Italia
Sig. Magni Leica Mycrosystems Italia
La ns. segreteria e a Vs. disposizione, per chiarimenti sulle modalità di iscrizione, alla presentazione (GRATUITA) e sulla compilazione della scheda di adesione.
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